有些剛剛接觸我們儀器的用戶朋友，在使用儀器的過程中總會遇到這樣或那樣的問題。在這里我們以涂層測厚儀為例給大家作個簡要的講解。
1.為什么儀器有時測量不準確？
   這是一個比較籠統的問題。因為就儀器不準的原因來說是多種多樣的。單對涂層測厚儀來說，主要有下面幾種原因引起測量不準確。
 （1）強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發生死機現象。
 （2）人為因素。這中情況經常會發生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉化成為數字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量發生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
  （3）在系統矯正時沒有選擇合適的基體。基體zui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。
 （4）附著物質的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統矯正時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
  （5）儀器發生故障。此時可以和技術人員交流或者返廠維修。

2.測量過程中，為什么有時候測量數據會出現明顯偏差？
   測量過程當中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會造成測量數據明顯偏大。這時可以按住CAL鍵把該數據清除以免進入數據統計中去。

3.如何系統校準？
   校準的方法、種類，這是新用戶經常會遇到的問題。系統校準、零點校準還有兩點校準其實都已經在說明書上寫到了，用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時是多測量幾次以防止錯誤操作；系統校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。

4.如何選擇合適的儀器型號？
   選擇什么型號的儀器，要根據用戶測量物體的厚度來定。一般來說測量1200um以下的物體時選擇MC-2000A型，對0~1200um的厚度來說該型號已經達到2%~3%的度，而且對100um以下的厚度值它也能夠很好的確保測量精度。如果測量物體厚度在1200~5000um，建議選擇MC-2000C型測厚儀。更厚的話就要選擇MC-2000D增強型測厚儀。

5.有時開機出現干擾是什么原因？
    開機后儀器屏幕出現測量狀態箭頭不能再次進行測量，就說明儀器受到了干擾。主要有兩個原因:
  （1）開機時探頭離鐵基太近，因為鐵基磁場的影響而受到了干擾。
  （2）沒插好探頭或者探頭線有損傷。